OC परीक्षण रेटेड वोल्टेज और रेटेड आवृत्ति पर किया जाता है।

LV साइड का उपयोग मानक लो-वोल्टेज इंस्ट्रूमेंटेशन के साथ मिलान करने के लिए किया जाता है।

कोर लॉसेस लोड की परवाह किए बिना व्यावहारिक रूप से स्थिर रहते हैं।

सेकेंडरी करंट शून्य होता है, इसलिए $I^2R$ कॉपर लॉस को नजरअंदाज कर दिया जाता है।

प्रयोगशाला कर्मियों के लिए सुरक्षित

मानक लो-रेंज उपकरणों का उपयोग करता है

सीधे कोर लॉस मापदंडों की पहचान करता है

फुल-लोड कॉपर लॉसेस निर्धारित नहीं किए जा सकते

स्थिर आवृत्ति सप्लाई की आवश्यकता होती है

ट्रांसफॉर्मर दक्षता की गणना

नो-लोड पावर फैक्टर का निर्धारण

कोर डिजाइन का सत्यापन

HV साइड को ओपन रखा जाता है ताकि उच्च वोल्टेज से बचा जा सके, जिसके लिए महंगे और संभावित रूप से खतरनाक परीक्षण उपकरणों की आवश्यकता होगी।

विकल्प B गलत है क्योंकि HV साइड पर रेटेड वोल्टेज लागू करने के लिए एक हाई-वोल्टेज वेरिएबल सप्लाई और हाई-वोल्टेज मापक यंत्रों की आवश्यकता होगी, जो अव्यावहारिक है।

ट्रांसफॉर्मर कोर रेटेड फ्लक्स द्वारा उत्तेजित होता है, जिससे यह सुनिश्चित होता है कि मापा गया कोर लॉस वास्तविक ऑपरेटिंग कोर लॉस है।