परीक्षण के दौरान अत्यधिक उच्च करंट से बचने के लिए LV वाइंडिंग को हमेशा शॉर्ट-सर्किट किया जाता है।

लागू किया गया वोल्टेज आमतौर पर रेटेड वोल्टेज का 5-10% होता है।

SC परीक्षण पर वाटमीटर रीडिंग को फुल लोड कॉपर लॉस माना जाता है।

कम लागू वोल्टेज पर कम फ्लक्स घनत्व के कारण कोर लॉस को नजरअंदाज कर दिया जाता है।

कम बिजली स्रोत क्षमता की आवश्यकता होती है।

ट्रांसफार्मर लीकेज प्रतिबाधा को सटीक रूप से मापता है।

कोर लॉस निर्धारित नहीं करता है।

कम वोल्टेज स्तरों के सटीक मापन की आवश्यकता होती है।

किसी भी लोड पर दक्षता की गणना।

ट्रांसफार्मर का वोल्टेज रेगुलेशन निर्धारित करना।

परीक्षण HV साइड पर किया जाता है क्योंकि रेटेड करंट $I_{HV} = \frac{S}{V_{HV}}$, $I_{LV}$ से कम होता है, जिससे इसे मानक प्रयोगशाला उपकरणों के साथ नियंत्रित करना आसान हो जाता है।

यदि परीक्षण LV साइड पर किया जाता है, तो आपूर्ति स्रोत को बहुत कम वोल्टेज पर बहुत अधिक करंट प्रदान करने की आवश्यकता होगी, जो व्यावहारिक रूप से कठिन है।